제품 소개레이저 기기

400nm - 1100nm 파장 레이저 기기 M2 미터/M2 인자 측정 시스템

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400nm - 1100nm 파장 레이저 기기 M2 미터/M2 인자 측정 시스템

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제품 상세 정보:
브랜드 이름: Sintec Optronics
모델 번호: STC 시리즈
결제 및 배송 조건:
배달 시간: 주식
지불 조건: 은행을 통한 T/T

400nm - 1100nm 파장 레이저 기기 M2 미터/M2 인자 측정 시스템

설명
강조하다:

레이저 기기 M2 미터

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M2 요인 측정 시스템

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M2 요인 측정

파장 400-1100nm M2 Meter / M2 Factor 측정 시스템

 

레이저 빔 품질과 중점 능력은 레이저의 매우 중요한 매개 변수이며 일반적으로 M2 인자로 특징입니다. 레이저에 대한 M2 인자를 측정하려면그것은 빔 지름의 곱과 오차 사이의 차이에 기초하여 계산됩니다., 그리고 이상적인 가우스선 difrction 경계가 있다. 레이저 빔 품질 M2는 아래와 같다:

M2=(PI/4*LAMDA) *d0*THETA)

여기 M2는 레이저 빔 품질 M2, PI는 3입니다.1415927, LAMDA는 레이저 파장, d 0은 빔 직경, 그리고 THETA는 분기 각이다.

부문 번호 STC-M2
탐지 물질
파장 범위 400~1100nm
수신선 직경 20um-9mm
테스트 출력 전력 범위 10nW-10W ((광선 지름에 따라)

이 시스템은 소프트웨어와 함께 제공 됩니다. 위치가 소프트웨어에 입력 된 후, 빔 직경, 빔 분광 각도 및 M2는 다음과 같이 계산되고 주어집니다.

m2 factor

연락처 세부 사항
Wuhan Sintec Optronics Co., Ltd,

담당자: Steven

전화 번호: +86 15671598018

팩스: 86-027-51858989

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